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花崗巖平板

石料主要礦物成分為輝石，斜長石，少量橄欖石，黑云母以及微量磁鐵礦，黑色光澤，結構精密，經過億萬年的老化，質地均勻，穩(wěn)定性好、強度大、硬度高，能在重負荷下保持高精度。使用于工業(yè)生產和實驗室的測量工作。

精度參照個先進國家標準，平面度公差依：GB4987-85標準：

000級=1×(1+d/1000)um   00級=2×(1+d/1000)um

    0級=4×(1+d/1000)um     1級=8×(1+d/1000)um

（d為對角線mm）（測量溫度一般在20± 2℃） 

物理性能：比重：2970 -3070kg /㎡   抗壓強度：245-254N/m㎡    線膨脹系數：4.61×10-6/℃

吸水率：﹤0.13%      肖氏硬度：Hs70以上 

優(yōu)點

制作

制作工藝采用優(yōu)質的天然大理石料經機械加工，手工精研而成。黑色光澤，結構精密質地均勻，穩(wěn)定性好。強度大、硬度高。并具有：不生銹耐酸堿、不磁化、不變型、耐磨性好等優(yōu)點。能在重負荷及一般溫度下保持穩(wěn)定。

測量

是用天然的石質材料制成的精密基準測量工具，對儀器儀表、精密工具、機械制件的檢驗，都是理想的基準面。特別是用于高精度的測量方面，由于它得天獨厚的特性，而使鑄鐵平板相形見絀。

采用優(yōu)質“濟南青”石料經機械加工和手工精磨制成。黑色光澤,結構精密,質地均勻,穩(wěn)定性好,強度大,硬度高,能在重負荷及一般溫底下保持高精度，并且具有不生銹、耐酸堿、耐磨性、不磁化、不變型等優(yōu)點。花崗石平板適用于機械工廠的測量工具。

花崗巖平板精度要求

（大理石平臺）從切割定型，粗研磨到進恒溫室細研磨，前后要求精度高，溫度適宜。精度要求高于鑄鐵量具。適用于精度要求高的生產項目。

與花崗石特性與及優(yōu)點對比

花崗石平臺之石材特性及其優(yōu)點：

1.不變形，硬度高，耐磨性強。

2.抗磨蝕，耐高溫，免維護。

3.物理性穩(wěn)定，組織縝密，受撞擊晶粒脫落，表面不起毛邊，不影響其平面精度，花崗巖測量平臺，其工作表面在使用中保養(yǎng)維護簡便，材質穩(wěn)定，能夠保證長期不變形，線膨脹系數小，機械精度高，防銹、防磁、絕緣。

一、巖石經長期天然時效，組織結構均勻，線脹系數極小，內應力*消失，不變形。

二、剛性好，硬度高，耐磨性強，溫度變形小。

三、不怕酸，堿液物侵蝕，不會生銹，不必涂油，不易粘微塵，維護，保養(yǎng)方便簡單，使用壽命長。

四、不會出現劃痕，不受恒溫條件阻止，在常溫下也能保持測溫量精度。

五、不磁化，測量時能平滑移動，無滯澀感，不受潮濕影響，平面稱定好。物理性能：比重2970-3070kg/m3耐壓強度：2500-2600kg/cm3彈性系數：1.3-1.5×106kg/cm2吸水率 。 

規(guī)格、重量及精度：

支架配置

一般都配有支架，支架一般按的規(guī)格定制，特殊要求的可以按客戶要求制作。支架一般使用方鋼焊接，高度按大理石平板的厚度確定，一般設計放在支架上之后工作面離地面的高度是800mm。

支架zui下面接觸地面的有五個支點，其中三個是固定的另外兩個為調整支點用于粗調水平，支架zui上面與接觸的同樣有五個支點，都為可調支點用于微調水平的，需要注意的是接觸平板的5個支點同樣要先調節(jié)3個點即一個三角形的面，另外兩個輔助微調使用。

以上支架適用于2000*1000以內的平板，特別規(guī)格的平臺一般生產廠家會添加適當的支點來保證平板精度的。

材質性能對比

選用優(yōu)質“濟南青”“泰山青”“泰山青白粒”等石材經機械加工和手工精磨制成。由于石材產地不同各地的石材性能有所差異此表只作為參考

技術要求 

1、工作面上不得有裂紋、凹痕及組織疏松現象，且不得有磨痕及其它影響使用的缺陷。 

2、允許在大理石平板工作面出現天然的、非人為的彩色條紋和色斑。 

3、非工作面不得出現裂紋及大面積組織疏松現象，出現的凹陷、掉角或者劃傷允許修補。 

4、00級以下的大理石平板建議不用安裝手柄，特殊要求的允許雙方協商。 “0”級及“0”級以下的工作面上可以根據用戶要求打孔或開槽，并允許安裝帶有螺紋的銅套或不銹鋼套，但打孔或開槽的部位不得出現高于工作水平面的凸起。 

5、應采用細晶粒且結構致密的石材制作。作平板的石材有“濟南青”“泰山青”“泰山青白粒”。 

石材的物理性能應符合 

1）抗壓強度大于等于245mpa； 

2）抗彎強度22kn/mm2； 

3）肖氏硬度大于HS70； 

4）吸水率小于0.25%。 

6、工作面硬度應均勻且工作面各部位肖氏硬度應在HS70 以上。 

7、工作面的表面粗糙度平均偏差Ra值應達到0.32~0.63μm，側面的表面粗糙度平均偏差Ra 值應小于10μm。 

8、工作面與側面以及相鄰兩側面的垂直度公差為 12 級（可參考 GB1184-80 《形狀和位置公差》）

9、對采用對角線法或網格法檢驗工作面平面度時，應檢驗其平面波動量。

10、平面度取其平面波動zui大值與zui小值，zui大zui小值之差即為平板的平面度。